X熒光光譜儀是什么?

2016-12-09 11:06吳利年

X熒光光譜儀(RoHS檢測儀器)由激發源(X射線管)、高壓電源、探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。

工作原理

X光管發射的X射線,經過濾光片后,X射線的背景射線被濾光片吸收而減弱,然后經準直器變成平行光束,照射在樣品上.樣品受到激發,隨即產生含有被測元素的特征X射線熒光的復合光束.再經過準直器的準直進入半導體探測器,探測器本身具有能量分辨能力,可以甄別樣品所有發射的不同能量特征的X射線熒光,探測器輸出的信號經放大器的放大后進入運算裝置,由于探測器輸出的信號與入射的X射線熒光的能力成正比,因此可以得到定性、定量分析的能量譜圖。

X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:

波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)


波長色散型(WD-XRF)

元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷,同時發射出具有一定特殊性波長的X射線,根據莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關,其數學關系如下:

λ=K(Z? s)?2

式中K和S是常數。

能量色散型(ED-XRF)

元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷,產生能量差

X ray

△E= E1–E0=Kα

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。


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